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高分辨粒度仪的校准方法
更新时间:2023-10-26   点击次数:956次
高分辨粒度仪主要用于测量纳米材料的粒径和粒度分布,其应用广泛。
校准方法:
1.确保仪器光学系统工作正常。光学窗口是激光粒度分析仪器重要的组成部分,因此测试前应保证光学窗口内外表面光洁,无划痕,清洁,无缺损。光学基准谱平滑依次过渡,无明显突起或凹陷。
2.外界条件对仪器的影响。外界条件主要包括环境的湿度,温度和电源电压的波动对仪器测试结果的影响。
3.仪器测量重复性。将仪器预热到规定时间,采用一种国家标准物质进行多次测试,一般测试样品6~10次,记录每次D50,计算测量平均值,标准偏差和相对标准偏差。
4.仪器测量相对误差。与仪器重复性测量不同的是,仪器相对误差的测试要采用至少三种样品以上的国家标准物质进行测试,每种样品独立测量3次并分别求其平均值,获得多个粒度测量的平均值,分别计算仪器测量平均值与粒度表标准物质标准值间的相对误差。
5.仪器分辨力。仪器分辨力的判断是采用测试两种样品混合测试的方法,两种粒度标准物质的移取量要根据其质量浓度而定,确保混合后的样品中标准物质的质量浓度比为1:2,将样品混合均匀后加入仪器进行测量。应能够从仪器测量粒度分布曲线图中能够观察出2个独立不相连的峰形,则认为双峰已分。
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